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  標 題:多晶硅太陽能電池制造工藝簡述
  日 期:2007/6/13  源 自:互聯網 【字體: 字體顏色
 

關于光的吸收

  對于光吸收主要是:

  (1)降低表面反射;(2)改變光在電池體內的路徑;(3)采用背面反射。

  對于單晶硅,應用各向異性化學腐蝕的方法可在(100)表面制作金字塔狀的絨面結構,降低表面光反射。但多晶硅晶向偏離(100)面,采用上面的方法無法作出均勻的絨面,目前采用下列方法:

  [1]激光刻槽:用激光刻槽的方法可在多晶硅表面制作倒金字塔結構,在500~900nm光譜范圍內,反射率為4~6%,與表面制作雙層減反射膜相當。而在(100)面單晶硅化學制作絨面的反射率為11%。用激光制作絨面比在光滑面鍍雙層減反射膜層(ZnS/MgF2)電池的短路電流要提高4%左右,這主要是長波光(波長大于800nm)斜射進入電池的原因。激光制作絨面存在的問題是在刻蝕中,表面造成損傷同時引入一些雜質,要通過化學處理去除表面損傷層。該方法所作的太陽電池通常短路電流較高,但開路電壓不太高,主要原因是電池表面積增加,引起復合電流提高。

  [2]化學刻槽:應用掩膜(Si3N4或SiO2)各向同性腐蝕,腐蝕液可為酸性腐蝕液,也可為濃度較高的氫氧化鈉或氫氧化鉀溶液,該方法無法形成各向異性腐蝕所形成的那種尖錐狀結構。據報道,該方法所形成的絨面對700~1030微米光譜范圍有明顯的減反射作用。但掩膜層一般要在較高的溫度下形成,引起多晶硅材料性能下降,特別對質量較低的多晶材料,少子壽命縮短。應用該工藝在225cm2的多晶硅上所作電池的轉換效率達到16.4%。掩膜層也可用絲網印刷的方法形成。

  [3]反應離子腐蝕(RIE):該方法為一種無掩膜腐蝕工藝,所形成的絨面反射率特別低,在450~1000微米光譜范圍的反射率可小于2%。僅從光學的角度來看,是一種理想的方法,但存在的問題是硅表面損傷嚴重,電池的開路電壓和填充因子出現下降。

  [4]制作減反射膜層:對于高效太陽電池,最常用和最有效的方法是蒸鍍ZnS/MgF2雙層減反射膜,其最佳厚度取決于下面氧化層的厚度和電池表面的特征,例如,表面是光滑面還是絨面,減反射工藝也有蒸鍍Ta2O5, PECVD沉積 Si3N3等。ZnO導電膜也可作為減反材料。

  金屬化技術

  在高效電池的制作中,金屬化電極必須與電池的設計參數,如表面摻雜濃度、PN結深,金屬材料相匹配。實驗室電池一般面積比較小(面積小于4cm2),所以需要細金屬柵線(小于10微米),一般采用的方法為光刻、電子束蒸發、電子鍍。工業化大生產中也使用電鍍工藝,但蒸發和光刻結合使用時,不屬于低成本工藝技術。

  [1]電子束蒸發和電鍍:通常,應用正膠剝離工藝,蒸鍍Ti/Pa/Ag多層金屬電極,要減小金屬電極所引起的串聯電阻,往往需要金屬層比較厚(8~10微米)。缺點是電子束蒸發造成硅表面/鈍化層介面損傷,使表面復合提高,因此,工藝中,采用短時蒸發Ti/Pa層,在蒸發銀層的工藝。另一個問題是金屬與硅接觸面較大時,必將導致少子復合速度提高。工藝中,采用了隧道結接觸的方法,在硅和金屬成間形成一個較薄的氧化層(一般厚度為20微米左右)應用功函數較低的金屬(如鈦等)可在硅表面感應一個穩定的電子積累層(也可引入固定正電荷加深反型)。另外一種方法是在鈍化層上開出小窗口(小于2微米),再淀積較寬的金屬柵線(通常為10微米),形成mushroom—like狀電極,用該方法在4cm2 Mc-Si上電池的轉換效率達到17.3%。目前,在機械刻槽表面也運用了Shallow angle (oblique)技術。

  PN結的形成技術

  [1]發射區形成和磷吸雜:對于高效太陽能電池,發射區的形成一般采用選擇擴散,在金屬電極下方形成重雜質區域而在電極間實現淺濃度擴散,發射區的淺濃度擴散即增強了電池對藍光的響應,又使硅表面易于鈍化。擴散的方法有兩步擴散工藝、擴散加腐蝕工藝和掩埋擴散工藝。目前采用選擇擴散,15×15cm2電池轉換效率達到16.4%,n++、n+區域的表面方塊電阻分別為20Ω和80Ω.對于Mc—Si材料,擴磷吸雜對電池的影響得到廣泛的研究,較長時間的磷吸雜過程(一般3~4小時),可使一些Mc—Si的少子擴散長度提高兩個數量級。在對襯底濃度對吸雜效應的研究中發現,即便對高濃度的襯第材料,經吸雜也能夠獲得較大的少子擴散長度(大于200微米),電池的開路電壓大于638mv, 轉換效率超過17%。

  [2]背表面場的形成及鋁吸雜技術:在Mc—Si電池中,背p+p結由均勻擴散鋁或硼形成,硼源一般為BN、BBr、APCVD SiO2:B2O8等,鋁擴散為蒸發或絲網印刷鋁,800度下燒結所完成,對鋁吸雜的作用也開展了大量的研究,與磷擴散吸雜不同,鋁吸雜在相對較低的溫度下進行。其中體缺陷也參與了雜質的溶解和沉積,而在較高溫度下,沉積的雜質易于溶解進入硅中,對Mc—Si產生不利的影響。到目前為至,區域背場已應用于單晶硅電池工藝中,但在多晶硅中,還是應用全鋁背表面場結構。

 

 
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